|
ЦКП «Лазерный фемтосекундный комплекс» ОИВТ РАН (ЦКП «ЛФК»)
Наименование ЦКП
ЦКП «Лазерный фемтосекундный комплекс» ОИВТ РАН (ЦКП «ЛФК»)
Наименование Базовой организации
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Объединенный институт высоких температур РАН (ОИВТ РАН), 125412, г. Москва, ул. Ижорская, д.13, стр.2
Руководитель ЦКП «ЛФК»
Овчинников Андрей Владимирович, старший научный сотрудник, к.ф.-м.н. телефон: 8(495)229-42-40 e-mail: ovtch2006@yandex.ru
Фактический адрес размещения ЦКП
111116, г. Москва, ул. Красноказарменная, д.17А, здание ОИВТ РАН
Перечень основного оборудования ЦКП
1. Атомный микроскоп модели NANO SCOPE MultiMode NS4A-01 фирмы VEECO, 2007 г. 2. Генератор импульсного терагерцового излучения DSTMS, 2015 г. 3. Двухканальная фемтосекундная система ТЕТА фирмы ООО «Авеста-Проект», 2008 г. 4. Измерительный комплекс для фемтосекундной лазерной системы. В состав входят: анализатор спектра, измерители мощности, визуализаторы излучения фирм 3Sigma, FieldMaster, Ocean Optics, Single-Shot Autocorrelator (SSA), 2007-2015 гг. 5. Лазерный комплекс ТФЛК-1 (1240 нм, 80 фс, 10 Гц, 1 ТВт), 2002 г. 6. Лазерный микроскоп PALM Combisystem фирмы Carl Zeiss Microimaging GmbH/MIB-MS на основе Axio Obzerver. Включает в состав непрерывный и наносекундный лазеры. Предназначен для проведения медико-биологических исследований, 2010 г. 7. Мультидиапазонный автокоррелятор COMET фирмы ООО «Авеста-Проект», 2007 г. 8. Нанометрическая система позиционирования Р-587 с системой управления и контроля по 6-ти координатным осям фирмы Physik Instrumente (PI) GmbH & Co. KG, 2007 г. 9. Оптическая вакуумная камера ВУП1, 2005 г. 10. Оптическая система с временным разрешением Optoscope (400-700 нм, разрешение 5 пс) фирмы Optronis GmbH, 2002 г. 11. Осциллограф TDS 5054 (500 МГц 4 канала) фирмы Tektronix, 2001 г. 12. Осциллограф TDS 3052 (500 МГц 2 канала) фирмы Tektronix, 2004 г. 13. Параметрический преобразователь частоты излучения фемтосекундного лазера OPA1 (1240 нм, 400-900 нм) фирмы ООО «Авеста-Проект», 2005 г. 14. Рентгеновский диагностический комплекс X-Ray (диапазон 1-10 кэВ) фирмы ЗАО НПЦ «СОЛИТОН-НТТ», 2005 г. 15. Турбомолекулярная откачная система TSN 261 PM S07 061 10 фирмы Pfeiffer Vacuum GmbH, 2006 г.
16. Установка Лазерный пинцет ЛПС ОИВТ РАН, 2007 г.
17. Установка ТФЛК-2. Фемтосекундная лазерная система (1240 нм, 80 фс, 100 Гц, 1,5 мДж.) фирмы ООО «Авеста-Проект», 2005 г. 18. Фемтосекундный интерферометр с цифровой регистрацией ФИЦР фирмы ЗАО НПЦ «СОЛИТОН-НТТ», 2007 г. 19. Фемтосекундный иттербиевый лазер ТеМа (1050 нм, 100 фс, 3 Вт, 70 МГц) фирмы ООО "Авеста", 2011 г. 20. Цифровая стробируемая камера с усилителем яркости PI-MAX фирмы Roper Scientific Inc., 2005 г.
Перечень применяемых методик1. Интерферометрическая методика измерения микрорельефа поверхности 2. Методика фемтосекундной интерференционной микроскопии для исследования быстропротекающих процессов с субпикосекундным разрешением 3. Методика спектральной микроинтерферометрии для непрерывной регистрации движения поверхности в пикосекундном временном диапазоне с нанометрическим разрешением 4. Методика измерения интегрального коэффициента отражения импульсного лазерного излучения от поверхности твердотельной мишени 5. Спектроскопия высокого разрешения слабых оптических сигналов видимого диапазона спектра 6. Электронно-оптическая регистрация оптических сигналов с пикосекундным временным разрешением 7. Интерферометрический метод измерения волнового профиля скорости и давления за фронтом лазерно-индуцированной ударной волны 8. Метод измерения динамического предела упругости, сдвиговой и объемной прочности вещества в пикосекундном временном интервале 9. Методика pump-probe с импульсом терагерцового излучения и фемтосекундным временным разрешением 10. Методика pump-probbe с оптической микроскопией и фемтосекундным временным разрешением 11. Методика атомно-силовой микроскопии 12. Методика лазерного захвата микрообъектов 13. Метод лазерного скальпеля
Основные направления исследований
- Экспериментальные исследования экстремальных состояний, возникающих при взаимодействии мощного фемтосекундного лазерного излучения с веществом; - Разработка прецизионных лазерных технологий обработки различных материалов; - Разработка лазерных технологий клеточной микрохирургии и тканевой инженерии с помощью фемтосекундного лазерного «пинцета-скальпеля».
Перечень выполняемых работ/оказываемых услуг
1. Измерение порога абляции вещества при импульсном лазерном воздействии
2. Исследования оптических характеристик, структуры и состава конденсированных и газовых сред методом абсорбционной спектроскопии с использованием источника мощного, сверхкороткого, когерентного терагерцового излучения. 3. Исследование спектральных характеристик и квантового выхода жесткого рентгеновского излучения, выхода и спектрального распределения быстрых электронов 4. Исследование генерации и эволюции распространения лазерно-индуцированных ударных волн ультракороткой длительности 5. Измерение прочности на разрыв металлов и сплавов при предельно высоких скоростях деформирования. 6. Измерения в схеме pump-probe с терагерцовым импульсом и фемтосекундным разрешением 7. Измерение морфологии абляционного кратера 8. Измерение временной кинетики флуоресценции с пикосекундным разрешением 9. Измерение скорости распространения и массовой скорости лазерно-индуцированной ударной волны в металлических пленочных образцах 10. Измерение прочностных свойств материалов при высокоскоростном деформировании 11. Измерение спектров теплового излучения и флуоресценции в видимом диапазоне спектра 12. Лазерная модификация и манипулирование биологическими объектами 13. Фемтосекундная обработка материалов
План работы ЦКП на 2024 г.1. Исследование сверхбыстрой динамики электронной и фононной подсистем в сегнетоэлектрических кристаллах при воздействии широкополосных терагерцевых импульсов с высокой напряжённостью электрического поля. 2. Нелинейные эффекты в полупроводниковых материалах в поле мощных пикосекундных терагерцовых импульсов. 3. Исследование влияния мощного широкополосного ТГц излучения на жизнеспособность биологических объектов. 4. Исследование особенностей формирования наноструктур при различных режимах воздействия сверхкоротких лазерных импульсов на образцы металлов, полупроводников и многослойных структур (наноламинаты) в специальных средах (газы, жидкости). 5. Исследования свойств полупроводниковых материалов под действием однопериодных терагерцевых импульсов с высокой напряженностью электрического поля (несколько десятков МВ/см). 6. Проведение экспериментальных исследований влияния параметров органических кристаллов на спектр излучения ТГц импульсов и измерение напряженности электрического поля при накачке мощными инфракрасными фемтосекундными импульсами хром-форстеритовой лазерной системы.
7. Исследование ударно-волновых явлений пикосекундной длительности в различных материалах.
Сведения о выполненных работах/оказанных услугах 2023 г. Сведения о выполненных работах/оказанных услугах 2022 г.
Сведения о выполненных работах/оказанных услугах 2021 г.
Сведения о выполненных работах/оказанных услугах 2020 г.
Сведения о выполненных работах/оказанных услугах 2019 г. Нормативные акты, регулирующие деятельность ЦКПРегламентирующие документы
- условия допуска к работе на оборудовании ЦКП - типовой договор на проведение работ/оказание услуг
- правила конкурсного отбора заявок
|
Атомный микроскоп модели NANO SCOPE MultiMode NS4A-01 фирмы VEECO |
Лазерный комплекс ТФЛК-1 (1240 нм, 80 фс, 10 Гц, 1 ТВт) |
Лазерный микроскоп PALM Combisystem фирмы Carl Zeiss |