Теневой фоновый метод: новые фоны, методы обработки изображений, точность и пространственное разрешение
Вернуться к обычному виду

Теневой фоновый метод: новые фоны, методы обработки изображений, точность и пространственное разрешение


12.03.2023

Докладчик(и):  Винниченко Н.А. (физический ф-т МГУ)
Дата, время проведения:  16 марта 2023, 15:00
Адрес:  Ижорская 13 стр2, корп Л1, к 224


Представлено сравнение точности, пространственного разрешения и надежности при измерениях с помощью теневого фонового метода (Background Oriented Schlieren) объектов с сильно нелинейными изменениями показателя преломления. Показано, что использование специальных фонов и методов, заимствованных из интерферометрии и измерения трехмерной формы предметов с помощью структурированного света, в частности, фурье-профилометрии, позволяет существенно улучшить пространственное разрешение по сравнению с традиционно используемым кросскорреляционным методом, методами оптического потока и фонами из хаотично расположенных пятен. Для измерения тонких тепловых и концентрационных слоев в жидкостях, а также течений газов, содержащих ударные волны, важно, что фурье-профилометрия позволяет получать достоверные значения смещения для градиентов смещения, не превышающих 0.8-0.9 пикс/пикс (кросскорреляционный метод дает большую погрешность уже при градиенте смещения 0.4 пикс/пикс). Также рассмотрен вариант теневого фонового метода со специальной цветной кодировкой пятен и слежением за отдельными пятнами (M-array BOS), предназначенный для измерения объектов с сильной рефракцией.

Возврат к списку


Теневой фоновый метод: новые фоны, методы обработки изображений, точность и пространственное разрешение